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火蓝动态
探针卡
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发布时间:
2023-03-16 09:15
摘要:
在姑苏城 在小桥边
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发布时间:
2023-02-23 11:22
摘要:
2月立春过后,公司组织团建,我们放下平日里紧张忙碌的工作,趁着孩子们寒假也空闲,在张总的安排下,踏上了苏州之旅,体验了日行两万步的快乐和酸爽。
HLP TEST 开工大吉!!!
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发布时间:
2023-01-28 09:19
摘要:
前路浩浩荡荡,万事皆可期待!
平安喜乐 万事胜意
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发布时间:
2022-12-31 10:14
摘要:
半导体参数测试的关键问题——探针的接触电阻 浅谈
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摘要:
参数测试时,通常测试系统(ATE)的TESTER将电流或者电压输入被测器件(DUT),然后测量该器件对于此输入信号的响应。信号的通常传输途径为:从测试仪通过电缆束至测试头,测试头至探针卡,然后通过探针至芯片上的测试点(PAD),到达测试器件,并最后沿着原路径返回测试仪器。
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