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探针卡
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探针卡
发布时间：
2023-03-16 09:15
摘要：
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在姑苏城 在小桥边
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在姑苏城 在小桥边
发布时间：
2023-02-23 11:22
摘要：
2月立春过后，公司组织团建，我们放下平日里紧张忙碌的工作，趁着孩子们寒假也空闲，在张总的安排下，踏上了苏州之旅，体验了日行两万步的快乐和酸爽。
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HLP TEST 开工大吉！！！
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HLP TEST 开工大吉！！！
发布时间：
2023-01-28 09:19
摘要：
前路浩浩荡荡，万事皆可期待！
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平安喜乐 万事胜意
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平安喜乐 万事胜意
发布时间：
2022-12-31 10:14
摘要：
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半导体参数测试的关键问题——探针的接触电阻 浅谈
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半导体参数测试的关键问题——探针的接触电阻 浅谈
发布时间：
2022-09-09 17:27
摘要：
参数测试时，通常测试系统（ATE)的TESTER将电流或者电压输入被测器件（DUT)，然后测量该器件对于此输入信号的响应。信号的通常传输途径为：从测试仪通过电缆束至测试头，测试头至探针卡，然后通过探针至芯片上的测试点（PAD)，到达测试器件，并最后沿着原路径返回测试仪器。
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