火蓝动态_火蓝动态_大连火蓝电子科技有限公司

半导体参数测试的关键问题——探针的接触电阻浅谈

发布时间：

2022-09-09 17:27

摘要：

参数测试时，通常测试系统（ATE)的TESTER将电流或者电压输入被测器件（DUT)，然后测量该器件对于此输入信号的响应。信号的通常传输途径为：从测试仪通过电缆束至测试头，测试头至探针卡，然后通过探针至芯片上的测试点（PAD)，到达测试器件，并最后沿着原路径返回测试仪器。

HLP TEST参加 ICEPT2022完美落幕感谢莅临

发布时间：

2022-08-16 14:53

摘要：

第二十三届电子封装技术国际会议在大连召开，火蓝针测受邀参加本次会议并布置了相应展台，与来自政府、国内外高校和科研机构，以及电子封装制造厂商的多名专业人士集聚一堂，共同探讨先进封装前沿动态，最新技术应用解决方案

【ICPET 2022议程】第23届电子封装技术国际会议

发布时间：

2022-08-08 14:31

摘要：

【ICPET 2022议程】第23届电子封装技术国际会议

网络分析仪双端口校准方法

发布时间：

2022-06-11 11:15

摘要：

全双端口校准面步骤： ·【Cal】→{Cal Kit}→{85052D}具体的校准件的型号根据实际的为准。 ·【Cal】→{Calibrate}→{2-port cal}→{Reflection}按提示分别将网络仪1端口和2端口的开路（OPEN)/短路（short）/负载（load）校准完成。

RF射频芯片测试座简介

发布时间：

2022-05-10 11:25

摘要：

RF射频测试座中，大部分结构和普通的测试座类似，除了同轴连接器的部分